SSMS0008J04 Search Results

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Text: レーザ照射ダイナミック解析 （DALS:Dynamic Analysis by Laser Stimulation） 最近のLSIの高集積・高性能化により故障内容も複雑化し、電源電流リーク不良の解析だけでなく、LSIテスタを接続 したファンクション不良の解析が必要になってきています。とりわけ遅延による動作不良の解析の重要性が高まっています。