SN74FB2041A
Abstract: 84-1LMIS SN74FB2031 SN74FB2041ARC
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74FB2041A, Die Revision C January 15, 1996 Abstract Texas Instruments has qualified the SN74FB2041A, Die Revision C, to replace the SN74FB2041, Die Revision B. Die revision C was designed to improve propagation delay times. Data sheet changes are
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SN74FB2041A,
SN74FB2041,
SN74FB2041A
84-1LMIS
SN74FB2031
SN74FB2041ARC
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LRIS64K
Abstract: DSASW003741
Text: TN0193 Technical note LRIS64K bumped die description Product information • Product name: LRIS64K Wafer and die features July 2010 Wafer diameter: 8 inches Wafer thickness: 180 µm Die identification: M24RF64A1 Die finishing front side : SiO2 Die finishing (back side):
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TN0193
LRIS64K
LRIS64K
M24RF64A1
DSASW003741
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F37011
Abstract: No abstract text available
Text: TN0055 Technical note SRI4K die description Product information ● Product name: SRI4K ● Die code: P117ZMY Wafer and die features October 2007 Wafer diameter 8" Wafer thickness 180 µm Die technology F6SPs40s 3M 1P Diffusion Plant Chartered Die identification
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TN0055
P117ZMY
F6SPs40s
F37011
F37011
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lexan 920
Abstract: Lexan-920 lexan .920 VI-260-CV VI-J00 Wakefield Engineering
Text: 8 Sicherheits-Vorschriften Sicherungen. Die Zulassungsbestimmungen der Sicherheitsbehörden machen es erforderlich, daß die Module abgesichert werden. Die Sicherung muß in die +Input Leitung geschaltet werden, nicht in die –Input Leitung, da eine Unterbrechung der –Input Leitung bewirken würde, daß die GateAnschlüsse auf das Spannungspotential der +Input Leitung
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transistor MN1
Abstract: NAND Qualification Reliability HC00D SN74HC00 texas instruments lot trace code EN-4088Z HC00 HCT00 SN74HCT00 S01-06800
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74HC00 and SN74HCT00, Die Revision K August 20, 1997 Abstract Texas Instruments qualified the SN74HC00 and SN74HCT00 die revision K, to replace the SN74HC00 die revision F and the SN74HCT00 die revision G. Die revision K is a product
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SN74HC00
SN74HCT00,
SN74HCT00
S01-06800
transistor MN1
NAND Qualification Reliability
HC00D
texas instruments lot trace code
EN-4088Z
HC00
HCT00
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Untitled
Abstract: No abstract text available
Text: Nutzungsbedingungen Die in diesem Produktdatenblatt enthaltenen Daten sind ausschließlich für technisch geschultes Fachpersonal bestimmt. Die Beurteilung der Geeignetheit dieses Produktes für die von Ihnen anvisierte Anwendung sowie die Beurteilung der Vollständigkeit der
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Untitled
Abstract: No abstract text available
Text: Nutzungsbedingungen Die in diesem Produktdatenblatt enthaltenen Daten sind ausschließlich für technisch geschultes Fachpersonal bestimmt. Die Beurteilung der Geeignetheit dieses Produktes für die von Ihnen anvisierte Anwendung sowie die Beurteilung der Vollständigkeit der
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Untitled
Abstract: No abstract text available
Text: -40.+125 Nutzungsbedingungen Die in diesem Produktdatenblatt enthaltenen Daten sind ausschließlich für technisch geschultes Fachpersonal bestimmt. Die Beurteilung der Geeignetheit dieses Produktes für die von Ihnen anvisierte Anwendung sowie die Beurteilung der Vollständigkeit der
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MAX232
Abstract: EN-4088Z SN74ABT16240 SN74ABT16240A SN74ABT16241 SN74ABT16241A 1500KV ABT16241 Hitachi EN-4088Z ABT16240A
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74ABT16240A and SN74ABT16241A, Die Revision D February 20, 1997 Abstract Texas Instruments qualified the SN74ABT16240A and SN74ABT16241A die revision D replacing die revision B. Die revision D includes an all layer change, which incorporates timing
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SN74ABT16240A
SN74ABT16241A,
SN74ABT16240A
SN74ABT16241A
SN74ABT16240
SN74ABT16241
ABT16241
ABT16241A
MAX232
EN-4088Z
1500KV
ABT16241
Hitachi EN-4088Z
ABT16240A
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ABT16541A
Abstract: SN74ABT16540 SN74ABT16540A SN74ABT16541 SN74ABT16541A abt245n ASL2B SN74ABT245 EN4088Z
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74ABT16540A and SN74ABT16541A, Die Revision D May 14, 1997 Abstract Texas Instruments qualified the SN74ABT16540A and SN74ABT16541A die revision D, replacing die revision B. Die revision D includes an all layer change and improves the
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SN74ABT16540A
SN74ABT16541A,
SN74ABT16540A
SN74ABT16541A
SN74ABT16540
SN74ABT16541
SN74ABT16541
SN74ABT16541A
ABT16541A
abt245n
ASL2B
SN74ABT245
EN4088Z
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SN74ABT162823
Abstract: SN74ABT162823A
Text: TEXAS INSTRUMENTS Device Revision Notification for the ABT162823A Die Revision A August 9, 1996 Abstract Texas Instruments has qualified the SN74ABT162823A, Die Revision A, to replace the SN74ABT162823, Die Revision X. Die revision A was designed to improve ESD performance. Data
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ABT162823A
SN74ABT162823A,
SN74ABT162823,
SN74ABT162823A
ABT162823A
74ABT162823A
74ABT162823
ABT162823
SN74ABT162823
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Ablebond 71-1
Abstract: Ablebond 71 BCT8373 SN74BCT8373 SN74BCT8373A 5247 8 pin
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74BCT8373A, Die Revision B February 7, 1996 Abstract Texas Instruments has qualified the SN74BCT8373A, Die Revision B, to replace the SN74BCT8373, no die revision. Die revision B was redesigned to conform to IEEE Standard 1149.11990 JTAG . The die and device revision are necessary to change the TDO drive state controls to
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SN74BCT8373A,
SN74BCT8373,
Ablebond 71-1
Ablebond 71
BCT8373
SN74BCT8373
SN74BCT8373A
5247 8 pin
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Abstract: No abstract text available
Text: Application Note Switch Die Measurement Fixture Rev 0 RELEVANT PRODUCTS • calibration structure and the other 24 elements are used to measure die. Figure 1 illustrates a measurement element for a single pole, double throw SPDT switch die. All ANADIGICS Switch Die
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SN74ABT5400
Abstract: SN74ABT5400A SN74ABT5402 SN74ABT5402A ABT5402A
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74ABT5400A, Die Revision C SN74ABT5402A, Die Revision B April 26, 1996 Abstract Texas Instruments Advanced System Logic is issuing this notification to qualify the SN74ABT5400A, die revision C and the SN74ABT5402A, die revision B, to replace the
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SN74ABT5400A,
SN74ABT5402A,
SN74ABT5400,
SN74ABT5402,
ABT5402
ABT5402A
SN74ABT5400
SN74ABT5400A
SN74ABT5402
SN74ABT5402A
ABT5402A
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CBT3384A
Abstract: CBT3384
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the CBT3384A, Die Revision C October 6, 1995 Abstract Texas Instruments Advanced System Logic has qualified the CBT3384A, die revision C to replace the CBT3384, die revision A. Die revision C was redesigned to improve ESD and AC data sheet
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CBT3384A,
CBT3384,
CBT3384A
CBT3384
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EPIC-1ZS
Abstract: sn74cbt3384dw relco a016 CBT16209 CBT16212 SN74CBT16209 SN74CBT16209A SN74CBT16212 SN74CBT16212A
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74CBT16209A, Die Revision E and SN74CBT16212A, Die Revision D April 1, 1998 Abstract Texas Instruments has qualified a device revision for the CBT16212A, die revision ‘D’ and the SN74CBT16209A, die revision ‘E’. These devices were redesigned in order to incorporate improved
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SN74CBT16209A,
SN74CBT16212A,
CBT16212A,
CBT16212,
CBT16212
CBT16212A
EPIC-1ZS
sn74cbt3384dw
relco
a016
CBT16209
CBT16212
SN74CBT16209
SN74CBT16209A
SN74CBT16212
SN74CBT16212A
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ZMD31010
Abstract: ZMD AG "Signal Conditioner"
Text: ZMD31010 RBicLiteTM Low-Cost Sensor Signal Conditioner Technical Notes – Die Dimensions and Pad Coordinates PRELIMINARY ZMD31010 RBicLite Technical Notes Die Dimensions and Pad Coordinates Contents 1 RBICLITE™ DIE DIMENSIONS. 2
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ZMD31010
ZMD31010
ZMD AG
"Signal Conditioner"
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74AHC1G32DBV
Abstract: 74AHC1G00 74AHC1G04 SN74AHC1G00 SN74AHC1G08 SN74AHC1G32 SN74AHCT1G00 SN74AHCT1G08 SN74AHCT1G32 AHCT 125
Text: TEXAS INSTRUMENTS Informational Notification for Several AHC/AHCT Devices, Die Revision ‘C’ April 24, 1998 Abstract Texas Instruments has qualified several AHC/AHCT devices, die revision ‘C’ for the new DCK package. Die revision ‘C’ is a product redesign that includes a die shrink to fit the new
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lvt245
Abstract: LVT245A LVT245K SN74LVT245
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74LVT245A, Die Revision K May 14, 1996 Abstract Texas Instruments Advanced System Logic has qualified a device and die revision for the SN74LVT245A. The die was redesigned to enhance device performance.
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SN74LVT245A,
SN74LVT245A.
SN74LVT245
SN74LVT245A
LVT245A
LVT245K.
LVT245
LVT245A
lvt245
LVT245K
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abt245
Abstract: DW 5255 ABT245B SN74ABT245 SN74ABT245A SN74ABT245B SN74ABTH245 ABT245A
Text: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74ABT245B, Die Revision J May 10, 1996 Abstract Texas Instruments Advanced System Logic is issuing this notification to qualify the SN74ABT245B, die revision J to replace the SN74ABT245A, die revision H.
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SN74ABT245B,
SN74ABT245A,
ABT245,
ABT245
SN74ABTH245,
SN74ABT245A
ABT245A
ABT245B
DW 5255
ABT245B
SN74ABT245
SN74ABT245B
SN74ABTH245
ABT245A
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0.1 micro farads capacitor
Abstract: No abstract text available
Text: CY2037 High Accuracy EPROM Programmable PLL Die for Crystal Oscillators High Accuracy EPROM Programmable PLL Die for Crystal Oscillators Features Functional Description • Erasable programmable read only memory EPROM programmable die for in-package programming of crystal
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CY2037
12-bit
10-bit
0.1 micro farads capacitor
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drucksensoren
Abstract: Druck pressure sensor druck pressure
Text: SIEMENS 5 Elektrische Kenndaten Electrical Characteristics Elektrische Kenndaten 5 Die typische Kennlinie eines Drucksensors ist in Bild 29 beschrieben. Während die Summe aller Störgrößen bei 1 % vom Endwert gehalten werden kann, muß die Nullpunktspannung Vo. die Empfindlichkeits
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C55T
Abstract: No abstract text available
Text: AUSTIN SEMICONDUCTOR INC bOE D • RQQ21L7 OOOQiiOS 44H H A U S T MT4C4001J DIE 1 M EG X 4 DRAM MICRON MILITARY DRAM DIE 1 MEG x 4 DRAM DIE FEATURES DIE OUTLINE (Top View OPTIONS 14 13 12 11 10 5 4 3 2 DIE DATA BA SE D15B PASSIVATION LAYER M A SK # 80B ORDER NUMBER
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RQQ21L7
MT4C4001J
450mW
024-cycle
C55T
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MT4C4001
Abstract: mt4c4001jdc sm03b
Text: MICRON TECHNOLOGY INC 55E D WÊ blllSHT ITT H I URN M T4C4001J DIE 1 MEG x 4 DRAM fAICRQN MILITARY DRAM DIE 1 MEG x 4 DRAM DIE FEATURES DIE OUTLINE Top View 14 13 12 11 10 15 5 4 3 2 □ □ □ □ □ □□□ □ □ □ □□□ □ DIE DATA BASE D15B
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T4C4001J
450mW
024-cycle
MT4C4001
mt4c4001jdc
sm03b
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